概述
從光通信用單模光纖輸出端面的 NFP（近場模式）測量光纖的輸出光束直徑。光源采用1550nm LD光源。 NFP測量光學系統采用我們的高性能NFP測量光學系統M-Scope type S，物鏡為M-Plan Apo NIR 100x。使用的探測器是我們的InGaAs高靈敏度近紅外探測器ISA041。
測量光通信用單模光纖的NFP應用示例
從光通信用單模光纖輸出端面的 NFP（近場模式）測量光纖的輸出光束直徑。光源采用1550nm LD光源。 NFP測量光學系統采用我們的高性能NFP測量光學系統M-Scope type S，物鏡為M-Plan Apo NIR 100x。使用的探測器是我們的InGaAs高靈敏度近紅外探測器ISA041。
光束NFP測量裝置
光源
FC連接器輸出型溫控高穩定LD光源（1550nm）LSL002/1550
光學系統
高性能光束 NFP 測量光學系統 M-Scope S 型
2x 中間鏡頭端口 MS-OP011-RL2
物鏡
紅外物鏡 100x M-Plan Apo NIR 100
探測器
InGaAs高靈敏度近紅外探測器ISA041H2
數據處理分析設備
光束分析模塊AP013
其他的
用于光纖測量的光學系統安裝座，配有手動 3 軸平臺 OP002-F3
使用1550nm LD光源的SMF輸出端的NFP測量結果如左圖和下圖所示。
水平10.370um / 垂直10.406um（1/e寬度）
測量條件
總放大倍數：200x（物鏡100x x 中間2x）
像素分辨率：0.15um
暗電流校正：有
累計次數：4次
光學系統選擇
對于光學系統，我們選擇了我們的高性能光束NFP測量光學系統M-Scope type S。另外，由于單模光纖纖芯直徑極小，約為10um，因此我們使用了中間2x中繼端口。結果，實際觀察視場約為48um x 38.4um，像素分辨率為0.15um。
探測器選型
我們的InGaAs高靈敏度近紅外探測器在測量波長1550 nm附近的近紅外區域具有高靈敏度、線性光輸入/輸出特性以及對輸入光的高耐久性。我選擇了ISA041H2。
物鏡
物鏡為近紅外物鏡M-Plan Apo NIR 100x，由于測量波長在1550 nm波段，因此在近紅外區具有較高的透過率，并且在近紅外區進行像差校正。已選擇。
我們擁有豐富的光學測量光學設備產品陣容，可應用于光通信、光互連、光電子、新材料、生物技術等各個領域的光學測量。
在光通信、光互連、光電子領域，我們提供各種光學模塊，例如光纖和各種激光器的激光光束輪廓儀、各種發光元件的光束輪廓測量、各種傳感器和光接收元件的光照射測量用于光電子領域的各種光學應用測量，例如光學器件的光學特性評估測量。
此外，還有一款新產品是支持高功率激光測量的高性能光束輪廓測量光學系統，越來越多地應用于LiDAR和激光頭燈等汽車領域、生物識別傳感領域和電子領域例如激光投影儀已添加到產品陣容中。可以構建輸出約 10W 級激光的高精度激光光束分析儀系統。
| [新增] 2022/3/1 | [新產品]廣域擴展型FFP測量光學系統M-Scope型FSWW 與大面積發光元件兼容的廣域擴展型FFP測量光學系統M-Scope型FSW于2022年3月1日發布。測量目標光束直徑約為4.24mmφ，支持大型發光器件的測量。使用專用的FFP光學系統+圖像處理方法，可以進行實時FFP測量。 | M-Scope 類型 FSW |
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 | 用于高性能光學測量的光學系統 M-Scope I 型 | 一種高性能的光學測量光學系統，可用于光照射測量、光接收測量和光束輪廓測量等各種先進的光學應用測量。可以通過添加更多端口等功能進行擴展的旗艦型號。 |
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|---|---|---|---|
 | 具有偏振依賴性對策的 高性能光學測量光學系統 M-Scope I/PF 型 | 配備一個端口以防止偏振依賴性。一種高性能的光照射/接收測量光學系統，可減少偏振的影響并實現穩定的測量。 |
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 | 高性能 NFP 測量光學系統 M-Scope S 型 | 用于光束輪廓測量的高性能 NFP 測量光學系統。配備用于切換物鏡的手動左輪。支持同軸落射照明端口（可選）。用途廣泛的高功能型。 |
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|---|---|---|---|
 | 簡單的 NFP 測量光學系統 M-Scope L 型 | 用于測量光束輪廓的簡單 NFP 測量光學系統。單目規格、非同軸落射照明的低價型號。 |
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 | FFP 測量光學系統 M-Scope F 型 | 用于FFP（遠場方向圖，輻射角分布）測量的光學系統。使用光學系統+圖像處理方法可以進行實時測量。可應用于各種光學器件的輻射角分布和輸出NA的測量。 |
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 | 廣域型 FFP 測量光學系統 M-Scope 型 FW | 覆蓋約 3 mmφ 測量目標光束直徑的廣域 FFP（遠場模式，輻射角分布）測量光學系統。支持大面積發光器件測量。使用專用光學系統+圖像處理方法可以進行實時測量。 |
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 | [新產品] 廣域擴展型 FFP 測量光學系統 M-Scope 型 FSW | 廣域擴展型FFP（遠場模式，輻射角分布）測量光學系統，覆蓋測量目標光束直徑約4.24 mmφ。支持大面積發光器件測量。使用專用光學系統+圖像處理方法可以進行實時測量。 |
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 | 紅外高分辨率 FFP 測量光學系統 M-Scope 型 FHR | 用于紅外的高分辨率 FFP 測量光學系統。與VGA型InGaAs近紅外探測器ISA041VH配合使用，可在1310-1550nm光通信波段實現角像素分辨率為0.1°的高分辨率FFP測量。 |
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 | 準直光測量光學系統 M-Scope C 型 | 用于測量準直光平行度的光學系統。以高角分辨率測量光束的準直狀態。非常適合調整和組裝準直器模塊。 |
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 | NFP/FFP 同時測量光學系統 M-Scope D 型 | NFP/FFP同時觀察和測量光學系統，無需切換光學系統即可在同一外殼光學系統中實現NFP測量和FFP測量。 |
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 | 用于高功率激光 M-Scope HL 型的 NFP 測量光學系統 | ~10W級高功率激光測量光束輪廓/NFP測量光學系統。物鏡前面的衰減類型。使用的物鏡僅兼容10x。用于輸出 ~10W 級激光光束分析儀的單功能光學系統。 |
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 | 用于高功率激光器的高性能 NFP 測量光學系統 M-Scope HS 型 | 高性能光束輪廓/NFP 測量光學系統與 ~10W 級高功率激光測量兼容。物鏡后兩級調光型。可以選擇所使用的物鏡放大倍率。用于輸出 ~10W 級激光光束分析儀的高性能光學系統。 |
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 | 用于高功率激光 M-Scope HF 型的 FFP 測量光學系統 | FFP（遠場方向圖，輻射角分布）測量光學系統兼容~10W級高功率激光測量。使用光學系統+圖像處理方法可以進行實時測量。可應用于高功率激光器的輻射角分布和發射NA的測量。 |
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 | 用于藍色高功率激光的NFP/FFP 同時測量光學系統 M-Scope type HD | NFP/FFP同時測量光學系統兼容~10W級藍色高功率激光測量。使用光學系統+圖像處理方法可以進行實時測量。 |
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 | 簡易光學測量光學系統 M-Scope J 型 | 單目規格，用于光照射和光接收測量的小型通用型光學系統。小外殼使其非常適合與各種階段組合以及在設備中使用。 |
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 | 用于偏振依賴性 的簡單光學測量光學系統 M-Scope J/PF 型 | 一種單目規格、緊湊、通用型光學系統，用于光照射和光接收測量，配備有偏振相關對策端口。小外殼使其非常適合與各種階段組合以及在設備中使用。 |
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 | 超小型光學測量光學系統 M-Scope 類型 M6/M20 | 用于光照射和光接收測量的超緊湊、低成本固定鏡頭光學系統。偏振依賴性對策類型。易于安裝在舞臺上并融入各種設備。 |
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 | 有限空間激發光學系統 M-Scope G 型 | 特殊的激發光學系統，可以改變測量入射光的光斑尺寸和入射光NA。非常適合分析多模光纖、光布線波導和塑料光纖在特殊激勵條件下的光學傳播特性。 |
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 | 模式選擇激發光學系統 M-Scope ML 型 | 一種特殊的激發光學系統，只能提取和激發特定的入射光模式（入射光角度分量）。非常適合分析特殊激勵條件下多模光纖、多模光波導和塑料光纖的光學傳播特性。 |
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 | 用于 YAG 激光微點焊的激光照射光學系統 M-Scope Y 型 | 用于YAG激光微點焊的激光照射光學系統，用于光學部件和精密部件的高精度YAG焊接和固定。配備同軸觀察相機，可以檢查焊接位置和焊接條件。通過同時照射和焊接兩束光束，可以實現高精度微焊接。 |
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